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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
이진석 (연세대학교 기계공학과) 김학영 (연세대학교 기계공학과) 박영필 (연세대학교 기계공학과) 박노철 (정보저장기기 연구센터) 한재원 (연세대학교 기계공학과)
저널정보
정보저장시스템학회 정보저장시스템학회 추계학술대회논문집 정보저장시스템학회 2005년도 추계학술대회 논문집
발행연도
2005.1
수록면
160 - 161 (2page)

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Using a Shack-Hartmann sensor, we construct an optical testing system measuring the wavefront error of small optical components. The systematic error of the sensor is compensated with a reference plane-wave system that produces almost perfect plane waves. Several types of lenses are tested using a point source that generates spherical waves emitted from a pinhole. The results of the optical testing obtained with the Shack- Hartman sensor are compared with those measured with Zygo interferometer.
#Shack-Hartmann wavefront sensor #wavefront aberration #optical testing #pinhole diffraction

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