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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
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저널정보
한국진공학회(ASCT) Applied Science and Convergence Technology 한국진공학회지 제16권 제5호
발행연도
2007.9
수록면
311 - 321 (11page)

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NiO 극초박막을 Ag(001) 단결정 위에 성장하는 과정에서 발생하는 화학 결함들을 X선 광전자 분광법을 이용하여 연구하였다. 특히 박막 두께, 산소 분압, 물 분압, 기판 온도 등을 잘 제어한 성장 환경에서 얻어진 O 1s, Ni 2p 스펙트라의 분석을 통하여 NiO 극초박막 성장 시 형성되는 화학 결함들의 정체를 일관성 있게 밝혀내었다. 이를 통하여 결함 밀도를 최소화 할 수 있는 최적의 성장 조건을 제안할 수 있게 되었다.
#NiO 극초박막 #NiO/Ag(001) #X선 광전자 분광법 #결함 구조 #NiO ultrathin film #X-ray Photoelectron Spectroscopy #defect

목차

Ⅰ. 서론
Ⅱ. 실험 방법
Ⅲ. 결과
Ⅳ. 고찰
Ⅴ. 결과
Ⅵ. 감사의 글
참고문헌

참고문헌 (2)

참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - Henrich / 1994 / The Surface Science of Metal Oxides google schola 2. [학술지(정기간행물)] - C. Noguera / 1996 / Physics and Chemistry at Oxide Surfaces google schola

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