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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
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저널정보
한국진공학회(ASCT) Applied Science and Convergence Technology 한국진공학회지 제11권 제4호
발행연도
2002.12
수록면
201 - 206 (6page)

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N형 InGaAs에 대한 Pd/Si/Pd/Ti/Au 오믹 접촉의 급속 열처리 조건에 따른 오믹 특성을 조사하였다. 450℃까지의 열처리 동안에 전반적으로 우수한 오믹 특성을 나타내어 400℃, 20초의 급속 열처리 조건에서 최저 3.9×10^(-7) Ω㎠의 접촉 비저항을 나타내었다. 이는 열처리에 의해 생성된 Pd-Si계 화합물의 형성 및 Si의 InGaAs 표면으로의 확산과 관련이 있었다. 그러나 400℃에서 열처리 시간을 30초 이상으로 연장할 경우 접촉 비저항이 low-10^(-6) Ω㎠로 약간 증가하였고, 열처리 조건을 425~450℃/10초로 변화시킬 경우 high-10^(-7)~low-^(10-6) Ω㎠으로 약간 증가하였다. 이는 오믹 재료와 InGaAs의 반응에 의해 Pd-Ga계 화합물이 형성된 것과 관련이 있었다. 고온 열처리 후에도 오믹 재료와 InGaAs의 평활한 계면을 유지하면서 우수한 오믹 특성을 나타내어, 화합물 반도체 소자의 오믹 접촉으로 충분히 응용 가능하다고 판단된다.

목차

요약

Abstract

1. 서론

2. 실험방법

3. 실험결과 및 고찰

4. 결론

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