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한국진공학회(ASCT) Journal of Korean Vacuum Science & Technology Journal of Korean Vacuum Science & Technology Vol.6 No.4
발행연도
2002.12
수록면
139 - 142 (4page)

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Contactless electroreflectance measurements at room temperature were used to determine the bandgap energies of Zn_(1-x)Mg_xO thin films grown by metal-organic vapor phase epitaxy. It is found that the bandgap energy increases monotonically with the Mg composition x, up to the highest composition measured (x=0.45). The obtained correlation between the bandgap energy and the Mg composition can be used in the analysis of the electronic structure of ZnO/Zn_(1-x)Mg_xO heterostructures at room temperature.

목차

Abstract

1. Introduction

2. Experiment

3. Results and Discussion

4. Conclusions

Acknowledgments

References

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