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전계방사형 주사전자현미경에 의한 연속블록면 이미징
한국현미경학회지
2011 .01
접속이온빔 (Focused Ion Beam : FIB) 장치의 국내연구현황과 전망
한국진공학회 학술발표회초록집
1993 .02
집속이온빔(Dual Beam FIB)을 활용한 표면 및 계면분석용 TEM/Atom Probe 시편 제작 분석 기법
한국진공학회 학술발표회초록집
2015 .02
Application and Development of Focused Ion Beams
Applied Science and Convergence Technology
1993 .09
FIB를 이용한 상온동작 SET 제작 및 I-V 특성 측정
한국진공학회 학술발표회초록집
1999 .02
ICP소스를 이용한 FIB용 가스 이온원 개발
한국진공학회 학술발표회초록집
2010 .02
An examination of the sequence of intersecting lines using FIB/SEM : focused ion beam/scanning electron microscope
한국분석과학회 학술대회
2016 .05
γ - FIB 장치를 이용한 Co 박막의 일함수 측정
한국진공학회 학술발표회초록집
2003 .02
집속이온빔장치와 주사전자현미경을 이용한 박막 트랜지스터 구조불량의 3차원 해석
한국현미경학회지
2009 .01
집속이온빔(FIB) damage를 이용한 태양전지모듈 계면분석의 효율 향상 기술
한국분석과학회 학술대회
2011 .11
γ-FIB를 이용한 Single Crystal MgO Energy Band Structure 측정
한국진공학회 학술발표회초록집
2010 .02
γ-FIB System을 이용한 단결정 MgO의 Energy Band Structure 측정
한국진공학회 학술발표회초록집
2009 .08
γ - FIB 장치를 이용한 MgO 보호막의 이차전자 방출계수 측정
한국진공학회 학술발표회초록집
1998 .07
A study of electrical transport and forming effect in Nb₂O₅ film by means of FIB-SEM
한국진공학회 학술발표회초록집
2008 .02
Optimal Determination of the Fabrication Parameters in Focused Ion Beam for Milling Gold Nano Hole Array
Applied Science and Convergence Technology
2013 .09
Preparation Method of Plan-View Transmission Electron Microscopy Specimen of the Cu Thin-Film Layer on Silicon Substrate Using the Focused Ion Beam with Gas-Assisted Etch
한국현미경학회지
2015 .01
γ - FIB 장치 제작과 MgO 보호막의 이차전자 방출계수(γ)측정
한국진공학회 학술발표회초록집
1998 .02
Comprehensive Surface analysis of single/multi-layered film by FIB-SEM and AFM
한국분석과학회 학술대회
2020 .06
Low temperature SEM and FIB-SEM: Analysis approach to cryo techniques in Life Sciences
한국분석과학회 학술대회
2018 .11
γ-FIB를 이용한 산소 유량에 따른 ITO (Indium Tin Oxide)의 Energy Band Structure 측정
한국진공학회 학술발표회초록집
2011 .08
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