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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국현미경학회 한국현미경학회지 한국현미경학회지 제34권 제4호
발행연도
2004.1
수록면
255 - 264 (10page)

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무기결정질인 SmZn0.67Sb2의 3차원적 구조(공간군 P4/nmm, a = 4.26Å, c = 10.37Å)를 전자결정학을 이용하여 분석하였다. 3차원적 정보를 얻기 위해서 주요 정대축인 세 방향의 고분해능 이미지의 정보와 16개의 정대축 방향의 회절도형을 조합하였다. 고분해능 이미지의 결정학적 화상처리(CIP)를 결정구조의 보다 정확한 분석을 위하여 사용하였다. 전자결정학을 이용한 분석 결과, [001], [100], [110] 방향에 대한 고분해능 이미지의 φres는 각각 17.0o, 8.3o, 21.9o를 나타내었다. 전자결정학을 이용한 구조 분석 결과에 대한 정확도를 비교하기 위하여 X-ray 회절 분석을 시도하였다. SmZn0.67Sb2의 X-ray 구조 분석 결과, a = 4.276Å, c = 10.287Å이고 신뢰도(Rsym)는 4.16%이었다.
#전자결정학 #고분해능 이미지 #3D 구조 분석 #무기결정질 #결정학적 화상처리 #CIP). #Crystallographic Image Processing #CIP) #Electron crystallography #HREM #Inorganic crystal #Three-dimensional #3D) structure analysis

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