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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제19권 제9호
발행연도
2006.1
수록면
800 - 807 (8page)

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To enhance the conversion speed more fast, we separate the determination process of MSB and LSB with the two independent ADC circuits of the Incremental Sigma Delta ADC. After the 1st Incremental Sigma Delta ADC conversion finished, the 2nd Incremental Sigma Delta ADC conversion start while the 1st Incremental Sigma Delta ADC work on the next input. By determining the MSB and the LSB independently, the ADC conversion speed is improved by two times better than the conventional Extended Counting Incremental Sigma Delta ADC. In processing the 2nd Incremental Sigma Delta ADC, the inverting sample/hold circuit inverts the input the 2nd Incremental Sigma Delta ADC, which is the output of switched capacitor integrator within the 1st Incremental Sigma Delta ADC block. The increased active area is relatively small by the added analog circuit, because the digital circuit area is more large than analog. In this paper, a 14 bit Extended Counting Incremental Sigma-Delta ADC is implemented in 0.25 μm CMOS process with a single 2.5 V supply voltage. The conversion speed is about 150 Ksamples/sec at a clock rate of 25 MHz. The 1 MSB is 0.02 V. The active area is 0.50 × 0.35 mm2. The averaged power consumption is 1.7 mW.
#USN/RFID #Reader #ADC #Conversion speed #Sigma-delta #Low power

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참고문헌 (5)

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/ 1987. / A 16-bit low-voltage CMOS A/D converter sc-22 (2) : 157 ~ google schola / 1992. / Oversampled methods for A/D and D/A conversion : 1 ~ google schola / 1994. / A high precision ADC system for instrumentation 4 : 60 ~ google schola / 1995. / A high resolution, compact, and low-power DC suitable for array implementation in standard CMOS 45 (4) : 904 ~ google schola / 1996. / Oversampling method for data conversion (1) : 168 ~ google schola

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