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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2004.1
- 수록면
- 432 - 438 (7page)
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In this study, we investigated the WVTRs properties of inorganic thin composite films(ITCFs) to be newly adopted as the passivation layer of the OLED to replace the inorganic compound material. Because we thought that inorganic compound materials were limited to enhance the barrier property of thin film. So, ITCFs were fabricated by mixing the cooperated material with the base material. And then, ITCFs were deposited onto the plastic substrate using the electron beam evaporation system and the water vapor transmission rates(WVTRs) were measured using the Mocon equipment. As a result of the WVTR measurement, we could analyze the WVTR values for various ITCFs. ITCFs had a remarkably lower value than the inorganic compound film. Through the analysis of thin film, we can understand the crystal structure and mixed amount. Therefore, ITCFs can be used as the inorganic passivation layers of OLED with the inorganic compound film.
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/ 1987. / Organic electroluminescent diodes 51 : 913 ~
/ 1992. / Determination of thin metal film thickness by x-ray diffractometry using the Scherrer equation 262 : 269 ~
/ 1999. / A microstructural study of trans- parent metal oxide gas barrier films 355-356 : 500 ~
/ 1999. / 유기 전기발광 소자의 구조 및 특성 12 (6) : 18 ~
/ 1999. / 유기박막의 EL Devices 12 (6) : 11 ~
/ 1992. / Determination of thin metal film thickness by x-ray diffractometry using the Scherrer equation 262 : 269 ~
/ 1999. / A microstructural study of trans- parent metal oxide gas barrier films 355-356 : 500 ~
/ 1999. / 유기 전기발광 소자의 구조 및 특성 12 (6) : 18 ~
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