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저널정보
한국산업경영시스템학회 산업경영시스템학회지 산업경영시스템학회지 제33권 제2호
발행연도
2010.1
수록면
9 - 17 (9page)

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Complex products may present more than one type of defects and these defects are not always of equal severity. These defects are classified according to their seriousness and effect on product quality and performance. So, demerit systems are very effective systems to monitor the different types of defects. Recently, Kang et al.(2009) proposed the revised Demerit-CUSUM for the evaluation of the Demerit-CUSUM control chart performance exactly. In this paper, we present an advanced Demerit control chart using the double EWMA technique. The double EWMA technique is very efficient and strong method for process control where defects and nonconformities occur with various defect types. Moreover, we compare exact performance of Demerit-CUSUM, Demerit-EWMA and Demerit-DEWMA control chart according to changing sample size or mean shifts magnitude. By the result, we confirm that the performance of Demerit-DEWMA control chart is more than the performance of the Demerit-CUSUM and Demerit-EWMA control chart.
#Demerit Control Chart #Statistical Process Control #SPC) #Defects

목차

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참고문헌 (11)

참고문헌 신청
Chang,F.M / 2008 / Approximate distribution of demerit statistic-A bounding approach / Computational Statistics and Data Analysis 52 (7) : 3300 ~ 3309 google schola Chimka,J.R / 2006 / New Demerit Control Limits for Poisson Distributed Defects / Quality Engineering 18 (4) : 461 ~ 467 google schola Chimka,J.R / 2007 / Type II Errors of Demerit Control Charts / Quality Engineering 19 (3) : 207 ~ 214 google schola Dodge,H.F / 1977 / A Check Inspection and Demerit Rating Plan / Journal of Quality Technology 9 (3) : 146 ~ 156 google schola Lingyun, Z., Lopes / 2005 / An Extended EWMA Mean Chart / Quality Technology and Quantitative Management 2 (1) : 39 ~ 52 google schola

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