Identification of In-Home Appliance Types Based on Analysis of Current Consumption Using Energy Metering Circuit

Tin Trung Tran; Trung Xuan Pham; 김종욱

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자료유형: 학술저널

저자정보: Tin Trung Tran Trung Xuan Pham 김종욱

저널정보: 대한임베디드공학회 대한임베디드공학회논문지 대한임베디드공학회논문지 제12권 제2호

발행연도: 2017.1

수록면: 79 - 88 (10page)

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One of the important applications of activity sensing in the home is energy monitoring. Many previous methodologies for detecting and recognizing household appliances have been proposed. This paper presents an approach that uses an energy metering circuit (EMC) to classify and identify the various electrical devices in home based on root-mean-square (RMS) consumed current value. EMC gathers the RMS current values created by appliance state transition (e.g., on to off) and apparatus operating process. In this paper, an identification algorithm is proposed to detect a change in current levels using the standard deviation of current signals and their average values. In addition, characteristic of the appliance is extracted concerning four feature parameters concerning the number of current levels, the minimum level, the maximum level, and signal-to-noise ratio (SNR) of them. Experiment results validate the reliable performance of the proposed identification method for 11 representative appliances.

#RMS consumed current #Identification #Monitoring #Energy meter

참고문헌 (16)

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A. G. Ruzzelli / 2010 / Real-Time Recognition and Profiling of Appliances Through a Single Electricity Sensor / Proceedings of the 7th Annual IEEE Communications Society Conferenc

B. Gerald / 2009 / Recognizing the use-mode Kitchen Appliances From Their Current Consumption / Smart Sensing and Context 5741 : 163 ~ 176

G. W. Hart / 1992 / Nonintrusive Appliance Load Monitoring / Proceeding of the IEEE 80 (12) : 1870 ~ 1891

H. Pihala / 1998 / Non-intrusive Appliance Load Monitoring System Based on a Modern kWh-meter. Degree of Licentiate in Technology, Espoo

K. Chen / 2013 / A new Transient Feature Method of Power Signatures for Nonintrusive Load Monitoring Systems / Proceedings of the 2013 IEEE International Workshop on Applied Measur

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Tin Trung Tran

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