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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국영재교육학회 영재와 영재교육 영재와 영재교육 제8권 제1호
발행연도
2009.1
수록면
69 - 81 (13page)

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본 연구는 영재판별에서 가장 기초가 되는 지능검사를 좀 더 효율적으로 사용해 보고자 하는 목적에서 출발하여 다른 특성을 기반으로 제작된 K-WISC-Ⅲ와 K-RPM 두 검사의 영재판별과의 관련성을 알아보고자 한다. 이를 위하여 영재학생 41명과 일반학생 41명을 표집하고 이들의 K-WISC Ⅲ와 K-RPM 점수를 수집하였다. 연구결과 K-WISC-Ⅲ와 K-RPM 두 지능검사 점수간에는 .557(p<.01)의 상관이 나타났으며, K-WISC-Ⅲ의 12개 하위 요인 중에 7개의 요인이 K-RPM과 유의미한 상관이 있는 것으로 나타났는데, 토막 짜기 요인이 가장 높은 상관 정도인 .537(p<.01)로 나타났고 상식 요인이 .297(p<.01)로 가장 낮게 나타났다. K-RPM 검사 점수를 70%ile 이상을 받게 되면 K-WISC-Ⅲ에서 지능지수 125 이상을 획득하여 영재로 판별 될 가능성이 가장 높아짐이 밝혀졌다. 이러한 연구결과를 바탕으로 K-RPM을 활용하여 연구 결과로 제시된 일정 수준(70%ile) 이상의 후보자를 선별한 후 K-WISC-Ⅲ를 통해 영재를 판별한다면 조금 더 효율적인 영재 판별이 가능해 질 것이다.

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