Design for Testability를 위한 검사방식

이강현 ,  김용득

전자공학회지

1992 .01

Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )

김진문 ,  송원국 ,  이강현 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .07

Design for Testability

유영갑

한국통신학회 워크샵

1986 .01

Computer Aided Design of Sequential Logic Circuits (Case of Synchronous Sequential Logic Circuits)

金敬植 ,  趙東燮 ,  黃熙隆

전기학회논문지

1984 .04

Computer-Aided Design of Sequential Logic Circuits (Case of Asynchronous Sequential Logic Circuits)

金炳喆 ,  趙東燮 ,  黃熙隆

전기학회논문지

1984 .02

회로 분할에 의한 순차회로의 테스트생성 ( Test Generation for Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용

전자공학회논문지-C

1998 .04

신호선의 상관관계를 고려한 개선된 테스트용이도 분석 알고리즘

김윤홍

한국산학기술학회 논문지

2003 .03

회로 분할에 의한 대규모 순차회로의 테스트 생성 ( Test Generation for large Scale Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용 ,  정용군

한국통신학회 학술대회논문집

1997 .01

시이컨셜회로 구현에 관한 연구

박춘명

대한전자공학회 학술대회

2012 .11

논리계통의 회로측정방식 연구 ( Testability measurement for the digital systems )

김용득

대한전자공학회 학술대회

1980 .01

디지탈 시스템의 회로측정 평가방식에 관한 연구 ( A Study on a Testability Evaluation Method for the Digital System )

김용득

전자공학회지

1981 .10

동기 다치논리 순차회로 구성 이론

박춘명 ,  성현경 ,  강성수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

동기 다치논리 순차회로 구성 이론 ( A Construction Theory of Synchronous Multiple-Valued Logic Sequential Circuits )

박춘명 ,  성현경 ,  강성수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

고 Testability를 위한 Domino CMOS회로의 설계 ( On Designing Domino CMOS Circuits for High Testability )

이재민 ,  강성모

한국통신학회논문지

1994 .03

Testability of Supply Current Test in an AGC Circuit

Masaki Hashizume ,  Makoto Kawaji ,  i 외 3명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2003 .07

Random Pattern Testability of AND/XOR Circuits

Gueesang Lee

Journal of Electrical Engineering and information Science

1998 .02

컴퓨터에 의한 펄스형 순차회로의 설계

황희융 ,  조동섭 ,  김병철

대한전기학회 학술대회 논문집

1983 .07

비동기 순차 회로의 설계 자동화

권희용 ,  조동섭 ,  황희융

대한전기학회 학술대회 논문집

1983 .07

VHDL에 의한 테스트 용이화 설계방식의 순서회로 모델링 ( Modeling of Sequential Circuits for Design-for-Testability using VHDL )

엄태호 ,  이재민

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

순차 회로를 위한 효율적인 지연 고장 테스트 알고리듬

허경희 ,  강용석 ,  강성호

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .11