TFT-LCD 영상에서 누적히스토그램을 이용한 STD 결함검출 알고리즘

이승민; 박길흠

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자료유형: 학술저널

저자정보: 이승민 (경북대학교) 박길흠 (경북대학교)

저널정보: 한국멀티미디어학회 멀티미디어학회논문지 멀티미디어학회논문지 제19권 제8호

발행연도: 2016.8

수록면: 1,288 - 1,296 (9page)

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The reliable detection of the limited defect in TFT-LCD images is difficult due to the small intensity difference with the background. However, the proposed detection method reliably detects the limited defect by enhancing the TFT-LCD image based on the cumulative histogram and then detecting the defect through the mean and standard deviation of the enhanced image. Notably, an image enhancement using a cumulative histogram increases the intensity contrast between the background and the limited defect, which then allows defects to be detected by using the mean and standard deviation of the enhanced image. Furthermore, through the comparison with the histogram equalization, we confirm that the proposed algorithm suppresses the emphasis of the noise. Experimental comparative results using real TFT-LCD images and pseudo images show that the proposed method detects the limited defect more reliably than conventional methods.

#TFT-LCD #Defect Detection #Cumulative Histogram #Image Enhancement

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[학술지(정기간행물)] - 조영창 / 2007 / 컴퓨터비젼을 이용한 백라이트 표면결함 검사시스템 개발에 관한 연구 / 한국산업정보학회논문지 12 (3) : 116 ~ 123

[학술지(정기간행물)] - Y. Xie / 2014 / A Physics-based Defects Model and Inspection Algorithm for Automatic Visual Inspection / Journal of Optics and Lasers in Engineering 52 : 218 ~ 223

[학술지(정기간행물)] - J.H. Oh / 2008 / A Development of the TFT-LCD Image Defect Inspection Method Based on Human Visual System / IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communication and Computer Science E91 (6) : 1400 ~ 1407

[학술지(정기간행물)] - 노충호 / 2010 / 명암도 분포 및 형태 분석을 이용한 효과적인 TFT-LCD 필름 결함 영상 분류 기법 / 멀티미디어학회논문지 13 (8) : 1115 ~ 1127

[학술지(정기간행물)] - N. Otsu / 1979 / A Threshold Selection Method from Gray-Level Histograms / IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics 9 (1) : 62 ~ 66

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