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저자정보
박찬일 (광운대학교) 이수현 (광운대학교) 정용진 (광운대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2007년도 추계학술대회 논문집Ⅱ
발행연도
2007.11
수록면
601 - 602 (2page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2008

SoC 하드웨어 설계를 위한 SIFT 특징점 위치 결정 알고리즘의 고정 소수점 모델링 및 성능 분석
박찬일 ,  이수현 ,  정용진 전자공학회논문지-SD 2008.06 학술저널

2007

SIFT 특징점 위치 결정 알고리즘의 하드웨어 구현을 위한 고정 소수점 모델링 및 성능 분석
박찬일 ,  이수현 ,  정용진 대한전자공학회 학술대회 2007.11 학술대회자료

초록· 키워드

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SIFT(Scale Invariant Feature Transform)알고리즘은 영상의 크기변화, 회전등에 강인한 사물의 특징 검출 알고리즘으로, 현재 얼굴인식, 객체인식, 지문인식등 영상인식분야의 여러 방면에서 활발한 연구가 이루어지고 있다. 해당 알고리즘은 연산량이 많아 구동시간이 오래걸리고, 반복 연산되는 구조의 특성상 하드웨어로 구현하기가 용이하다.
본 논문애서는 SIFT의 하드웨이 설계를 위하여, 가장 연^_@span style=color:#999999 ^_# ... ^_@/span^_#^_@a href=javascript:; onclick=onClickReadNode('NODE06324925');fn_statistics('Z354','null','null'); style='color:#999999;font-size:14px;text-decoration:underline;' ^_#전체 초록 보기^_@/a^_#

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