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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2015.4
- 수록면
- 155 - 159 (5page)
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Light emitting devices (LEDs) are widely used in the liquid crystal display (LCD) industry, especially for LCD back light units. Therefore, much research has been performed to minimize manufacturing costs. However, the current process does not process LED chips from broken substrates even though the substrate is expensive sapphire wafer. This is because the broken substrates lose their alignment marks. After pre-processing, LED dies are glued onto blue tape to continue post-processing. If auxiliary alignment marks are stamped on the blue tape, post-processing can be performed using some of the LED dies from broken substrates. In this paper, a novel stamper module that can stamp the alignment mark on the blue tape is proposed, designed, and fabricated. In testing, the stamper was reliable even after a few hundred stamps. The module can position the stamp and apply the pattern effectively. By using this module, the LED industry can reduce manufacturing costs.
목차
ABSTRACT
1. Introduction
2. Design of Stamper Module
3. Results and Discussion
4. Conclusions
References
참고문헌 (6)
참고문헌 신청
1. [학술대회논문] - Lim, S. K. / 2006 / LCD Backlights and Light Sources / Proc. of Asian Symposium on Information Display (ASID) : 160 ~ 163
2. [학술지(정기간행물)] - Wang, T. / 2002 / 1 mW AlInGaN-based Ultraviolet Light-emitting Diode with an Emission Wavelength of 348 nm Grown on Sapphire Substrate / Appl. Phys. Lett. 81 (14) : 2508 ~ 2510
3. [기타자료] - Lin, H. -T. / 1999 / Alignment Pattern and Algorithm for Photolithographic Alignment Marks on Semiconductor Substrates / US Patent: 5982044
4. [학술대회논문] - Sohn, Y. W. / 2013 / Design of Stamping Module to Pattern Alignment Marks for LED Post-process / Proc. of 28th Annual Meeting of American Society for Precision Engineering (ASPE) : 345 ~ 346
5. [학술대회논문] - Seol, T. -H. / 2014 / Design and Verification of Marking Module for LED Post-process / Proc. of the International Conference of Manufacturing Technology Engineers (ICMTE) : 27 ~
2. [학술지(정기간행물)] - Wang, T. / 2002 / 1 mW AlInGaN-based Ultraviolet Light-emitting Diode with an Emission Wavelength of 348 nm Grown on Sapphire Substrate / Appl. Phys. Lett. 81 (14) : 2508 ~ 2510
3. [기타자료] - Lin, H. -T. / 1999 / Alignment Pattern and Algorithm for Photolithographic Alignment Marks on Semiconductor Substrates / US Patent: 5982044
4. [학술대회논문] - Sohn, Y. W. / 2013 / Design of Stamping Module to Pattern Alignment Marks for LED Post-process / Proc. of 28th Annual Meeting of American Society for Precision Engineering (ASPE) : 345 ~ 346
5. [학술대회논문] - Seol, T. -H. / 2014 / Design and Verification of Marking Module for LED Post-process / Proc. of the International Conference of Manufacturing Technology Engineers (ICMTE) : 27 ~
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