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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
이호훈 (충북대학교) 이대종 (충북대학교) 전명근 (충북대학교)
저널정보
한국지능시스템학회 한국지능시스템학회 논문지 한국지능시스템학회 논문지 제25권 제3호
발행연도
2015.6
수록면
260 - 265 (6page)

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본 논문은 에지 특징을 이용한 얼라인 시스템을 제안한다. 얼라인 시스템은 PCB나 LCD 패널 등에 새겨진 기준 마크(fiducial mark)를 통하여 위치 정보를 획득한다. 그러므로 획득한 영상에서 정확하게 기준 마크를 찾는 것이 얼라인 시스템 성능의 지표가 된다. 에지 특성은 위치, 길이 형태 등의 기하학적 특징을 지니며 이런 특징은 기준 마크를 찾기 위해 적적하고, 밝기의 변화, 크기 및 각도의 변화에 강한 특성을 지닌다. X, Y축 이동 및 회전 할 수 있는 장비와 소프트웨어을 이용한 얼라인먼트 실험을 통하여 제안한 시스템의 성능을 검증하였다.

목차

요약
Abstract
1. 서론
2. 제안한 얼라인먼트 알고리즘
3. 실험 및 결과
4. 결론 및 향후 연구
References

참고문헌 (8)

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