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학술저널
저자정보
김종형 (서울과학기술대학교) 고현준 (서울과학기술대학교) 임승용 (서울과학기술대학교)
저널정보
한국전시산업융합연구원 한국과학예술융합학회 한국과학예술포럼 Vol.19
발행연도
2015.3
수록면
221 - 229 (9page)
DOI
10.17548/ksaf.2015.03.19.221

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최근 반도체 산업 동향은 생산 원가의 절감을 위해 12인치(300mm) 웨이퍼를 지나 18인치(450mm) 웨이퍼로 동향이 변하고 있는 추세이다. 때문에 치수 변화에 따른 웨이퍼 레벨 패키지 공정의 박막 증착을 위한 공정의 호환성 검증이 필요시 된다. 웨이퍼 레벨패키지 기술은 웨이퍼 표면상에 회로 패키지를 형성함으로 패키지의 크기를 최소화 할 수 있는 반도체기술이다. 이러한 패키징 공정에 있어 가장 중요한 요소는 휨과 깨짐 현상이다. 우리는 12인치와 18인치의 웨이퍼에 댐의 높이 및 열 분포에 따른 열적 특성을 유한요소해석 방식을 통해 최적화 공정을 설계하려 한다. 여기서 댐이란 웨이퍼 상의 이미지 센서의 균일한 부착 및 충전물질이 넘치는 것을 방지하는 역할을 한다. 때문에 본 연구에서는 유한요소 해석을 통해 댐의 형상이 패키지의 신뢰성 성능에 끼치는 영향성을 판단하고, 3D 모델링된 패키지 모델에 대한 열적 기계적 시뮬레이션을 통해 결과를 분석하였다.

목차

Abstract
국문초록
I. 서론
Ⅱ. 이론 및 실험 방법
Ⅲ. 모델 구성 및 해석 조건
Ⅳ. 해석결과
V. 결론
Reference

참고문헌 (11)

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