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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
고현준 (Seoul National University of Science Technology) 임승용 (Seoul National University of Science Technology) 김희태 (School of Mechanical Design and Automation Engineering) 김종형 (Seoul National University of Science Technology) 김옥래 (Korea Institute of Industrial Technology)
저널정보
한국생산제조학회 한국생산제조학회지 한국생산제조시스템학회지 Vol.23 No.3
발행연도
2014.6
수록면
230 - 236 (7page)

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Wafer level package technology is added to the surface of wafer circuit packages to create a semiconductor technology that can minimize the size of the package. However, in conventional packaging, warpage and fracture are major concerns for semiconductor manufacturing. We optimized the wafer dam design using a finite element method according to the dam height and heat distribution thermal properties. The dam design influences the uniform deposition of the image sensor and prevents the filling material from overflowing. In this study, finite element analysis was employed to determine the key factors that may affect the reliability performance of the dam package. Three-dimensional finite element models were constructed using the simulation software ANSYS to perform the dam thermo-mechanical simulation and analysis.

목차

ABSTRACT
1. 서론
2. 이론 및 실험방법
3. 모델 구성 및 해석조건
4. 해석 결과 비교
5. 결론 및 토의
References

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