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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Kyungmin Kim (Hanyang University) Changsik Yoo (Hanyang University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.14 No.6
발행연도
2014.12
수록면
728 - 732 (5page)

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Macro-model of magnetic tunnel junction (MTJ) for spin transfer torque magnetic random access memory (STT-MRAM) has been developed. The macro-model can describe the dynamic behavior such as the state change of MTJ as a function of the pulse width of driving current and voltage. The statistical behavior has been included in the model to represent the variation of the MTJ characteristic due to process variation. The macro-model has been developed in Verilog-A.

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. SWITCHING TIME OF MTJ
Ⅲ. DYNAMIC BEHAVIOR MODELING OF MTJ
Ⅳ. RESULTS
Ⅴ. CONCLUSIONS
REFERENCES

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