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허준우 최석규 (동국대학교) 고동식 (동국대학교) 곽노성 (동국대학교) 김현석 (동국대학교) 이진구 (동국대학교) 이석철 (LIG넥스원) 김완식 (LIG넥스원)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2013년도 대한전자공학회 추계종합학술대회
발행연도
2013.11
수록면
239 - 242 (4page)

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InP Gunn diode is widely used in the W-band frequency of 75-110 GHz as VCOs(Voltage Controlled Ocillators) because of its higher RF power as compared to that obtainable using GaAs substrate. In this paper, we explored the reverse current characteristics of a fabricated InP Gunn diode with a current limiting structure. Lower current and higher breakdown voltage are achieved with variable Schottky barrier formed at the interface region between n-type InP active layer and cathode contact. We verified contact formations, work function variations, and breakdown effect of the InP Gunn diode through modeling.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. InP 건 다이오드 제작 및 측정
Ⅲ. 전류 전압 특성 연구 결과 및 토론
Ⅳ. 결론
참고문헌

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