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연구보고서
저자정보
Ilkoo Ahn (Korea Advanced Institute of Science and Technology) Changick Kim (Korea Advanced Institute of Science and Technology)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 기타 간행물 Korea-Japan Joint Workshop on Frontiers of Computer Vision (FCV) 2010
발행연도
2010.2
수록면
478 - 480 (3page)

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In this paper, we propose a novel and fast algorithm that can detect defects on images with repeated patterns. This task is done through saliency detection by using spectral residual, which is based on Fourier Transform. In detail, the difference between the original signal and a smooth one in the log amplitude spectrum is calculated, and the salienc ... 전체 초록 보기

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