지원사업
학술연구/단체지원/교육 등 연구자 활동을 지속하도록 DBpia가 지원하고 있어요.
커뮤니티
연구자들이 자신의 연구와 전문성을 널리 알리고, 새로운 협력의 기회를 만들 수 있는 네트워킹 공간이에요.
논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2009.11
- 수록면
- 120 - 123 (4page)
이용수
초록· 키워드
오류제보하기
The proposed built-in self-test(BIST) architecture aims at multiple digital-to-analog converters (DACs) in a low temperature poly-silicon(LTPS) based thin-film transistor liquid crystal display(TFT-LCD) source driver IC. DACs play an important role in display driver ICs(DDIs), so the proposed BIST is indispensable for DDIs’ testing. The proposed BIST can compute differential non-linearity(DNL), integral nonlinearity(INL) and timing errors using some basic modules. The proposed architecture benefits the hardware overhead and the test application time without the loss of test quality. The validity and the effectiveness of the proposed method are verified through HSPICE simulations with an LTPS process.
목차
Abstract
I. INTRODUCTION
II. PRELIMINARIES
III. PROPOSED METHOD
IV. EXPERIMENTAL
V. CONCLUSIONS
ACKNOWLEDGMENT
REFERENCES
참고문헌 (0)
참고문헌 신청함께 읽어보면 좋을 논문
논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!
-
Digital to Analog Converter(DAC)의 내장된 자체 테스트 (Built-In Self Test)기법 연구
대한전자공학회 학술대회
2006 .11
-
Low Power and Small Area Source Driver Using Low Temperature Poly-Si(LTPS) Thin Film Transistors(TFTs) for Mobile Displays
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2007 .01
-
An Efficient BIST (Built-in Self-test) for A/D converters
대한전자공학회 ISOCC
2007 .10
-
A New Low Power BIST Architecture Based on Probability Models
대한전자공학회 ISOCC
2007 .10
-
저온 Poly-Si TFT를 이용한 System on Panel용 8-Bit DAC 설계
대한전자공학회 학술대회
2006 .06
-
효율적인 캐쉬 테스트 알고리듬 및 BIST 구조 ( An Effective Cache Test Algorithm and BIST Architecture )
전자공학회논문지-C
1999 .12
-
TFT-LCD Data Driver용 8-bit DAC의 속도와 면적의 최적 설계
대한전자공학회 학술대회
2013 .11
-
입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )
전자공학회논문지-SD
2000 .08
-
A Low-Power and High-Accuracy Driving Method for LTPS TFT-LCD in Mobile Applications
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2006 .01
-
LTPS TFT-LCD 개발현황
한국정보디스플레이학회지
2001 .01
-
플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트
전자공학회논문지-SD
2007 .06
-
A New BIST Architecture for Word Oriented Memory
대한전자공학회 ISOCC
2006 .10
-
A Compact Cyclic DAC Architecture for Mobile Display Drivers
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2009 .01
-
혼합 모드 BIST 테스트 패턴 생성기
전기학회논문지
1998 .07
-
분할 및 병렬 처리 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소
전기학회논문지 D
2000 .06
-
고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계
전자공학회논문지-SD
2005 .02
-
Development of Driver IC on TFT-based Liquid Crystal Display
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2005 .01
-
An Efficient BIST Architecture for Boards with Multiple Scan Chains
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1997 .01
-
스캔 분할 기법을 이용한 저전력 Test-Per-Scan BIST
대한전자공학회 학술대회
2003 .07
-
Capacitor DAC (Digital to Analog Converter) With Gamma-correction for TFT-LCD driver
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2003 .01
이 논문의 저자 정보
최근 본 자료
댓글(0)
0
UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2013-569-001482423