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저자정보
이영훈 (성균관대학교) 김인수 (성균관대학교) 민형복 (성균관대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2006년도 추계학술대회 논문집Ⅱ
발행연도
2006.11
수록면
591 - 594 (4page)

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The most commonly used mixed-signal devices are digital-to-analog converter(DAC). Testing the analog/mixed-signal circuitry of a mixed-signal IC has become a difficult task. Offset error, gain error. Non-monotonic behavior. Differential Non-linearity(DNL) error, Integral Non-linearity(INL) error are important specifications used as test parameters for DAC. In this letter, we propose an efficient BIST structure for DAC testing. The proposed BIST adds the circuit which uses the capacitor and op-amp, and accomplishes a test.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. Test Parameter
Ⅲ. 기존의 DAC 테스트 기술
Ⅳ. 제안하는 DAC 방법
Ⅴ. 실험결과
Ⅵ. 결론
감사의 글
Ⅶ. 참고문헌

참고문헌 (0)

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