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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
박은석 (서강대학교) 김주호 (서강대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2007년도 SOC 학술대회
발행연도
2007.5
수록면
26 - 29 (4page)

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CMOS 공정기술의 발전으로 반도체 제고 과정에서 발생하는 공정 변이(process variation) 의 영향은 더욱 중요시 되고 있다. 또한 DSM(deep submicron) 시대에 접어들면서 공정변수의 영향으로 회로의 지연시간의 중요성은 더욱 더 커지게 되었다. 본 논문에서는 미세 설계 환경에서의 통계적 시간 분석을 기반으로 게이트 사이징을 이용한 지연시간의 최적화 방법을 제시한다. 제안된 알고리즘은 리컨버전트 팬아웃으로 인한 경로 공유 현상에 따라 발생하는 경로 상관관계 문제를 고려한 임계경로의 확률을 이용한 게이트 임계성을 산출하여 게이트를 사이징 함으로써 지연시간의 최적화에 대한 효율성을 검증하였다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 이론적 배경
Ⅲ. 경로 상관관계와 게이트 사이징을 통한 지연시간 최적화 기법
Ⅲ. 실험
Ⅳ. 결론
참고문헌

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