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Chulhyun Park (연세대학교) Junghan Kang (연세대학교) Seong-Ook Jung (연세대학교) Ilgu Yun (연세대학교)
저널정보
대한전자공학회 ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications ICEIC : 2008
발행연도
2008.6
수록면
327 - 329 (3page)

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Variation analysis of the DC characteristics for multi-finger MOSFETs is investigated using the measured data from the test structure. The DC characteristics of multi-finger MOSFET, such as the threshold voltage, saturation current, saturation voltage and unit-finger ... 전체 초록 보기
#Variation analysis #Multi-finger MOSFET #and DC modeling

목차

1. Introduction
2. Test Structures and Fabrication
3. Results and Discussion
4. Conclusions
Acknowledgments
References

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