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신주용 (한양대학교) 안레센 (한양대학교) 신현철 (한양대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2008년 정기총회 및 추계종합학술대회
발행연도
2008.11
수록면
449 - 450 (2page)

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In this paper, we propose complex gate type structures, for design for debug and repair. When an error is found on a semiconductor chip, we want to fix the error by using the s ... 전체 초록 보기

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