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저자정보
Ki-young Kim (숭실대학교) Jae-Ho Lim (숭실대학교) Sung-Bin Kim (숭실대학교) Seok-Yoon Kim (숭실대학교)
저널정보
대한전자공학회 ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications ICEIC : 2010
발행연도
2010.6
수록면
562 - 565 (4page)

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As the semiconductor process technology goes beyond the ultra-deep submicrometer regime (below 45㎚), reliability problem on chip interconnects becomes a critical issue in semiconductor designs. The average, rms(root-meansqure) and peak currents are primarily used to analyze interconnect reliability. In this paper, we propose the guideline to determine the minimum number of segments in interconnect models for estimating these currents quickly and accurately.

목차

Abstract
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Determining the minimum number of segments for current estimation
Ⅲ. Discussions
Ⅳ. Conclusions
Acknowledgments
References

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