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학술대회자료
저자정보
김기영 (숭실대학교) 임재호 (숭실대학교) 김덕민 (숭실대학교) 김석윤 (숭실대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2010년 하계종합학술대회
발행연도
2010.6
수록면
549 - 552 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (4)

2011

신뢰성 해석을 위한 반도체 다중연결선의 RMS 전류 추정 기법
김기영 ,  김덕민 ,  김석윤 전기학회논문지 2011.08 학술저널

2010

반도체 회로 연결선의 신뢰도 해석을 위한 전류 해석 기법
김기영 ,  임재호 ,  김석윤 전기학회논문지 2010.08 학술저널
반도체 다중연결선의 신뢰성 해석을 위한 평균 전류 추정 기술
김기영 ,  임재호 ,  김덕민 외 1명 대한전자공학회 학술대회 2010.06 학술대회자료
반도체 다중연결선의 신뢰성 해석을 위한 평균 전류 추정 기술
김기영 ,  임재호 ,  김덕민 외 1명 대한전자공학회 학술대회 2010.06 학술대회자료

초록· 키워드

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As semiconductor process technologies improve, the coupling capacitances often become bigger than self capacitances. In this paper, we propose an analytic technique for analyzing average current on an interconnect in a multiconductor structure such as bus. The proposed technique has shown to yield the acceptable errors compared to HSPICE results.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 단일 연결선의 평균 전류 측정
Ⅲ. 제안하는 평균 전류 측정 기술
Ⅳ. 실험 및 결과
Ⅴ. 결론
Ⅵ. Acknowledgement
참고문헌

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