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Kyung-Chang Ryoo (서울대학교) Jeong-Hoon Oh (서울대학교) Sunghun Jung (서울대학교) Sang Wan Kim (서울대학교) Min-Chul Sun (서울대학교) Garam Kim (서울대학교) Hyun Woo Kim (서울대학교) Dae Woong Kwon (서울대학교) Ji Soo Jang (서울대학교) Jang Hyun Kim (서울대학교) Hongsik Jeong (삼성전자) Byung-Gook Park (서울대학교)
저널정보
대한전자공학회 ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications ICEIC : 2010
발행연도
2010.6
수록면
11 - 13 (3page)

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Relationships of resistive switching characteristics are investigated for NiO based Resistive Switching Random Access Memory (RRAM) by adapting cross-pointed structure. In order to evaluate high-density RRAM with low switching current, we have shown that there are important relationships between various analytical para ... 전체 초록 보기

목차

Abstract
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Motivation and Device Characteristics
Ⅲ. Results and Discussions
Ⅳ. Conclusions
Acknowledgments
References

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