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논문 기본 정보
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- 발행연도
- 2010.4
- 수록면
- 221 - 223 (3page)
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This paper represents a novel short-circuit detecting scheme comparating the gate voltage of IGBT. The proposed scheme is operated to protect IGBT under short-circuit faults such as fault under load(FUL) and hard switch-fault(HSF). The proposed short-circuit protection circuit consists of two parts. One is the difference generator part, which generates a difference between a gate-voltage and an input volt ... 전체 초록 보기
목차
Abstract
1. 서론
2. IGBT의 단락 고장 시 특성
3. 제안하는 단락 회로 검출 방법
4. 시뮬레이션
5. 결론
감사의 글
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