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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2010.10
- 수록면
- 113 - 118 (6page)
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본 논문에서는 스캔 쉬프트 전력소모 감소를 위한 새로운 스캔 셀 배열 방법론을 제안하였다. 제안된 방법은 개미집단 최적화 기법(Ant Colony Optimization:ACO)을 이용하여 주어진 테스트 집합에 대해서 해밍거리를 휴리스틱 정보로 이용하고 비트 천이수를 비용으로 정의하여 구해진 개미집단의 솔루션 중 최적의 조합을 반복적으로 선택함으로써 스캔 쉬프트 동작중의 전력소모를 감소시킬 수 있는 셀 배열을 계산한다. ISCAS’89 벤치마크 회로에 대한 실험을 통해서 제안한 방법이 기존의 방법들에 비해서 쉬프트 전력 소모를 7~13% 줄일 수 있음을 증명하였다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 관련 연구 동향
Ⅲ. 제안하는 스캔 셀 배열 기법
Ⅳ. 실험 및 고찰
Ⅴ. 결론
참고문헌
저자소개
참고문헌 (10)
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1. [기타자료] - L.Whetsel / 2000 / Adapting Scan Architecture for Low Power Operation / Proc. of International Test Conference : 863 ~ 872
2. [학술지(정기간행물)] - P. Rosinger / 2004 / Scan Architecture with Mutually Exclusive Scan Segment Activation for Shift and Capture Power Reduction / IEEE Trans. on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems 23 (7) : 1142 ~ 1153
3. [학술지(정기간행물)] - Hong-Sik Kim / 2008 / A New Scan Partition Scheme for Low-Power Embedded Systems / ETRI Journal 30 (3) : 412 ~ 420
4. [기타자료] - M. S. Jelodar / 2006 / Power aware scan-based testing using genetic algorithm / Proc. of IEEE CCECE/CCGEI : 1905 ~ 1908
5. [학술대회논문] - C. Giri / 2005 / Scan flip-flop ordering with delay and power minimization during testing / Proc. of IEEE Indicon 2005 Conf : 467 ~ 471
2. [학술지(정기간행물)] - P. Rosinger / 2004 / Scan Architecture with Mutually Exclusive Scan Segment Activation for Shift and Capture Power Reduction / IEEE Trans. on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems 23 (7) : 1142 ~ 1153
3. [학술지(정기간행물)] - Hong-Sik Kim / 2008 / A New Scan Partition Scheme for Low-Power Embedded Systems / ETRI Journal 30 (3) : 412 ~ 420
4. [기타자료] - M. S. Jelodar / 2006 / Power aware scan-based testing using genetic algorithm / Proc. of IEEE CCECE/CCGEI : 1905 ~ 1908
5. [학술대회논문] - C. Giri / 2005 / Scan flip-flop ordering with delay and power minimization during testing / Proc. of IEEE Indicon 2005 Conf : 467 ~ 471
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