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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
윤광수 (한국전자통신연구원) 유정희 김유곤 (전남대학교)
저널정보
대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2009년도 추계학술대회 강연 및 논문 초록집
발행연도
2009.11
수록면
1,500 - 1,503 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (6)

2023

5G 통신용 Athermal AWG Module의 가속수명시험 후 수명예측
윤광수 ,  윤심권 ,  박형준 외 1명 대한기계학회 춘추학술대회 2023.03 학술대회자료

2022

5G 모바일용 Athermal AWG Module의 신뢰성 평가
윤광수 ,  유정희 ,  김수용 외 1명 대한기계학회 춘추학술대회 2022.03 학술대회자료

2021

5G 통신용 Athermal AWG Module 의 칩 기구물 변경에 따른 신뢰성 평가 및 수명예측
윤광수 ,  유정희 ,  전인수 대한기계학회 춘추학술대회 2021.04 학술대회자료

2019

광통신용 AWG 모듈의 가속수명시험에 따른 수명예측
윤광수 ,  유정희 ,  전인수 대한기계학회 춘추학술대회 2019.02 학술대회자료

2009

광통신용 모듈의 수명예측과 고장분석
윤광수 ,  유정희 ,  김유곤 대한기계학회 춘추학술대회 2009.11 학술대회자료

2008

광통신용 1.25Gbps Transceiver 가속수명시험
윤광수 ,  유정희 ,  허영순 대한기계학회 춘추학술대회 2008.11 학술대회자료

초록· 키워드

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In this paper, lifetime estimation and failure mode of the long-term reliability for optical communication module in use of high speed optical access network are investigated. High temperature storage tests and accelerated life tests are used to long-term reliability. Accelerated aging test is carried out during 5,500 hour with the three accelerated aging conditions. Mean life of module is assumed to follow the Arrhenius relationship from the analysis of failure data for the accelerated aging conditions. Electric and chemical cause for the failure mechanism were mainly due to a overstress failure and a wearout failure.
#Accelerated life test(가속수명시험) #Arrhenius relationship(아레니우스 관계식) #Failure mode(고장모드)

목차

Abstract
1. 서론
2. 고장모드
3. 가속수명시험 준비
4. 가속수명시험
5. 시험데이터 분석
6. 고장분석
7. 결론
참고문헌

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