반도체칩 내부 결함 검사 테스트 베드 개발

하태호 ,  이재학 ,  이창우 외 2명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2011 .10

자동차 부품의 내표면 결함 검사 시스템에 대한 연구

강희신 ,  노지환 ,  최지연

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2014 .10

반도체 검사 장비의 진동 분석

임경화 ,  안채헌 ,  오정배 외 2명

한국소음진동공학회 학술대회논문집

2008 .04

태양광 웨이퍼의 결함검출을 위한 자동 정밀검사 시스템 개발

백승엽

한국생산제조학회지

2011 .10

반도체용 칩 테스트 챔버 내부 유동 특성에 관한 연구

손용진 ,  김성 ,  이슬기 외 5명

한국유체기계학회 학술대회 논문집

2019 .07

자동검사시스템에서 결함 가능성을 이용한 결함 검출

김민재 ,  이승민 ,  박길흠

한국통신학회 학술대회논문집

2014 .06

QFN 반도체 패키지의 외형 결함 검사를 위한 효과적인 결함 분류 시스템 개발

김효준 ,  이정섭 ,  주효남 외 1명

융합신호처리학회 논문지

2009 .01

반도체 패키지의 내부 결함 검사용 알고리즘 성능 향상

김재열 ,  윤성운 ,  한재호 외 3명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2002 .10

Modeling and Analysis of On-chip and Off-Chip Power Supply Network

Keun Myung Ken Lee

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

세라믹칩 전기적 성능검사 시스템을 위한 고속구동 액튜에이터 개발

배진호 ,  김성관

한국산학기술학회 논문지

2011 .04

A Sampling Inspection Plan with Human Error

Yong-Hwa Lee ,  Seung-Kweon Hong

대한인간공학회지

2011 .10

BGA 409 Chip의 외관검사 알고리즘 설계

강수민 ,  허경무 ,  주영복

정보 및 제어 논문집

2011 .04

Modeling and Analysis of Impedances and Noises on On-Chip and Off-Chip

Tae-Jin Hwang ,  Jae-Kyung Wee ,  Yong-Ju Kim

대한전자공학회 ISOCC

2004 .10

대시야 백색광 간섭계를 이용한 3차원 검사 장치 개발

구영모 ,  이규호

한국지능시스템학회 논문지

2012 .12

초음파를 이용한 감자의 내부결함검사

김인훈 ,  정규홍 ,  장경영 외 2명

Journal of the Korean Society for Precision Engineering

2003 .03

광학 시뮬레이션 기술을 이용한 반도체 결함 검사 조건 최적화

이창훈 ,  정용덕 ,  이슬기 외 2명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2013 .05

BGA 형태 반도체 패키지의 2차원 자동 비전 검사 구현에 관한 연구

유상현 ,  김용관 ,  김준식 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

2005 .06

대규모 용수 상수배관 검사를 위한 비파괴 검사 로봇의 개발

이재열 ,  홍성호 ,  전광우 외 1명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2017 .12

철도차량의 비파괴검사에 관한 고찰

김정남 ,  장길수 ,  박영훈

한국철도학회 학술발표대회논문집

2005 .11

Neural Chip 의 최근동향과 상용 Chip

한일송

대한전자공학회 워크샵

1991 .01