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목차
Abstract
1. 서론
2. 실험
3. 실험결과 및 고찰
4. 결론
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[학술지(정기간행물)] - Kanji Murano / 1982. / Dielectric Properties of Ceramics in the system TiO3-Bi2O3.3TiO2 and Their Applicat ions in a High-Voltage Capacitor 65 : 554 ~ 560
[학술지(정기간행물)] - D. W. Hoffman / 1982. / Internal Stresses in Cr and Pt Films Deposited by Sputtering from a Planar Magnetron Sources 20 : 355 ~ 358
[학술지(정기간행물)] - S. Matsubara / 1989. / Preparation of epitaxial ABO3 Perovskite-type Oxide Thin Films on a 66 : 5826 ~ 5832
[학술지(정기간행물)] - Yoshio Abe / 1997. / Dielectric Properties of SrTiO3 Capacitor Using TIN Bottom Electrode and Effects of SrTiO3 Film Thickness 36 : 5175 ~ 5178
[학술지(정기간행물)] - J. S. Kim / 2002. / Fabrication and Properties of TiO3 Ceramic Thin Film ⅲ : 1179 ~ 1182
[학술지(정기간행물)] - D. W. Hoffman / 1982. / Internal Stresses in Cr and Pt Films Deposited by Sputtering from a Planar Magnetron Sources 20 : 355 ~ 358
[학술지(정기간행물)] - S. Matsubara / 1989. / Preparation of epitaxial ABO3 Perovskite-type Oxide Thin Films on a 66 : 5826 ~ 5832
[학술지(정기간행물)] - Yoshio Abe / 1997. / Dielectric Properties of SrTiO3 Capacitor Using TIN Bottom Electrode and Effects of SrTiO3 Film Thickness 36 : 5175 ~ 5178
[학술지(정기간행물)] - J. S. Kim / 2002. / Fabrication and Properties of TiO3 Ceramic Thin Film ⅲ : 1179 ~ 1182
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