메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

이 논문의 연구 히스토리 (2)

초록· 키워드

오류제보하기
The problem regarding nanometer-level contaminant particles has come to occupy an important position in semiconductor fabrication processes, as they can be the main reason for yield loss. To detect these particles, focusing technology is necessary for forming tightly collimated particle beam. The object of this study is to design nanoparticle focusing lenses for in-situ nanoparticle measurement at low pressure conditions (~1 torr). The geometric dimensions of these lenses were initially discussed on the basis of design guidelines provided by Wang et al. To optimize the Stokes nu ... 전체 초록 보기

목차

Abstract
1. 서론
2. 렌즈설계
3. 수치해석
4. 결론
후기
참고문헌

참고문헌 (0)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2010-554-002112130