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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2009.1
- 수록면
- 15 - 23 (9page)
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정확한 연산이 필요한 마이크로프로세서에서 소프트 에러에 대한 면밀한 연구들이 진행되었다. 마이크로프로세서 구성원 중에서도 메모리 셀은 소프트 에러에 가장 취약하고, 소프트 에러가 발생했을 때 중요한 정보들과 명령어들을 가지고 있기 때문에 전체 프로세스와 동작에 큰 영향을 미치게 된다. 아키텍처 레벨에서 이러한 소프트 에러를 발견하고 정정하기 위한 방법으로 오류 검출 및 정정 코드가 많이 사용되고 있으며, Itanium, IBM PowerPC G5등의 마이크로프로세서는 Hamming 코드와 Hasio 코드를 L2 캐쉬에 사용하고 있다. 하지만 이러한 연구들은 대형 서버에 국한되었으며 전력 소모에 대한 고려는 되지 않았다. 고집적 저전력 임베디드 마이크로프로세서의 출현과 함께 동작과 문턱 전압이 낮아짐에 따라 임베디드 마이크로프로세서에서도 오류 검출 및 정정 회로의 필요하게 되었다. 본 논문에서는 SimpleScalar-ARM을 이용하여 L2캐쉬의 입출력 데이터를 분석하고, 임베디드 마이크로프로세서에 적합한 32 비트 오류 검출 및 정정 회로의 H-matrix를 제안한다. 그래서 H-spice를 사용하여 modified Hamming 코드와 비교한다. 본 실험을 위해 MiBench 벤치마크 프로그램과 TSMC 0.18㎛ 공정이 사용되었다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 임베디드 프로세서의 ECC 회로의 필요성과 전력 소모 감소
Ⅲ. 제안하는 ECC회로의 최적화
Ⅳ. 실험
Ⅴ. 결론
참고문헌
저자소개
참고문헌 (10)
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1. [학술지(정기간행물)] - T. C. May / 1979 / Alpha-particle- induced soft errors in dynamic memories / Electron Devices, IEEE Transactions on 26 (1) : 2 ~ 9
2. [학술대회논문] - N. Cohen / 1999 / Soft error considerations for deep-submicron CMOS circuit applications / Electron Devices Meeting, 1999. IEDM Technical Digest. International : 315 ~ 318
3. [학술대회논문] - N. Seifert / 2001 / Historical trend in alpha-particle induced soft error rates of the AlphaTM microprocessor / Reliability Physics Symposium 2001, Proceedings. 39th Annual. 2001 IEEE International : 259 ~ 265
4. [학술지(정기간행물)] - Nhon Quach / 2000 / High availability and reliability in the itanium processor / IEEE Micro 20 (5) : 61 ~ 69
5. [학술지(정기간행물)] - D. C. Bossen / 2002 / POWER4 system design for high reliability / IEEE Micro 22 (2) : 16 ~ 24
2. [학술대회논문] - N. Cohen / 1999 / Soft error considerations for deep-submicron CMOS circuit applications / Electron Devices Meeting, 1999. IEDM Technical Digest. International : 315 ~ 318
3. [학술대회논문] - N. Seifert / 2001 / Historical trend in alpha-particle induced soft error rates of the AlphaTM microprocessor / Reliability Physics Symposium 2001, Proceedings. 39th Annual. 2001 IEEE International : 259 ~ 265
4. [학술지(정기간행물)] - Nhon Quach / 2000 / High availability and reliability in the itanium processor / IEEE Micro 20 (5) : 61 ~ 69
5. [학술지(정기간행물)] - D. C. Bossen / 2002 / POWER4 system design for high reliability / IEEE Micro 22 (2) : 16 ~ 24
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