다양한 유전 연산자를 이용한 저전력 오류 정정 코드 설계

이희성; 홍성준; 안성제; 김은태

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자료유형: 학술저널

저자정보: 이희성 홍성준 안성제 김은태

저널정보: 한국지능시스템학회 한국지능시스템학회 논문지 한국지능시스템학회 논문지 제19권 제2호

발행연도: 2009.4

수록면: 180 - 184 (5page)

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저전력 환경에서의 메모리 집적도가 증가함에 따라 메모리는 soft error에 매우 민감해졌다. 오류 정정 코드는 일반적으로 양산 이후 메모리의 soft error를 수정하기 위해서 사용된다. 본 논문에서는 새로운 저전력 오류 정정 코드의 설계방법을 제안한다. 오류 정정 코드의 전력소비는 parity check 행렬의 선택을 통해 최소화 될 수 있다. 따라서 오류 정정 코드의 설계는 비선형 최적화 문제로 포함되는데 우리는 다양한 유전 연산자를 포함하는 유전자 알고리즘을 이용하여 이 문제를 해결한다. 제안하는 방법을 Hamming code와 Hsiao code에 적용하여 그 효율성을 입증하였다.

#오류 정정 코드 #저전력 #유전자 알고리즘 #Hamming code #Hsiao code #Error correcting code #low power #genetic algorithm

참고문헌 (7)

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1. [학술지(정기간행물)] - 이희성 / 2007 / 유전자 알고리즘을 이용하여 설계된 ECC회로의 uniform distribution memory data에서의 성능분석 / 대한전자공학회 하계종합 학술대회 논문집 30 (1) : 667 ~ 668

2. [학술대회논문] - K. Mohanram / 2005 / Input ordering in concurrent checkers to reduce power consumption / Proc. of IEEE Symposium on Defecated Fault Tolerance : 87 ~ 95

3. [학술대회논문] - D. Rossi / 2003 / Power consumption of fault tolerant codes: the active elements / Proc. of Intentional On-Line Testing Symposium : 61 ~ 67

4. [학술지(정기간행물)] - S. Ghosh / 2004 / Reducing power consumption in memory ECC checkers / International Test Conference : 1322 ~ 1331

5. [학술지(정기간행물)] - H. Lee / 2008 / A new genetic design for Error Correcting Code for power minimization / Journal of Circuits, Systems, and Computers 17 (5) : 773 ~ 783

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