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대한전자공학회 전자공학회논문지-SC 電子工學會論文誌 第45卷 SC編 第6號
발행연도
2008.11
수록면
16 - 25 (10page)

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미세 탐침이란 프로브 카드(Probe Card)를 구성하는 초미세탐침을 의미한다. 이러한 미세 탐침은 그 크기가 상당히 미세하기 때문에 외관 이상 유무를 사람의 눈으로 검사하기가 상당히 어렵다. 반면, 프로브카드를 구성하는 미세 탐침의 이상 유무는 상당히 중요한 요소라고 볼 수 있다. 이에 본 연구에서는 사람의 눈으로 검사하기 어려운 미세 탐침의 불량 상태를 자동화된 비전 시스템으로 검사할 수 있는 방법을 개발하였다. 즉 탐침의 구부러진 각도, Tip Length, 종단 직경을 고속으로 자동 검사할 수 있는 비전 기술을 개발한 것이다. 제안한 방법에 의한 실험결과, 사람의 육안에 위한 검사보다 검사의 정확도와 속도가 향상되었으며, 또한 조명환경에 대해서도 강건성(robustness)이 향상되었음을 알 수 있었다.
#Inspection #Needle #Vision #Angle #Tip length #Diameter

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 실험
Ⅳ. 결론
참고문헌
저자소개

참고문헌 (10)

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C H Chen , 2005 , Pattern Recognition and Computer Vision , World Scientific : 310 ~ 480 google schola Wesley E. Snyder , 2004 , Machine Vision , Cambridge : 298 ~ 325 google schola Maria Retrou , 1999 , Image Processing , John Wiley & Sons Inc : 265 ~ 282 google schola Randy Crane , 1996 , A Simplified Approach To Image Processing , Prentice Hall : 85 ~ 184 google schola Tamal Bose , 2003 , Digital Signal and Image Processing , John Wiley & Sons google schola

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