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논문 기본 정보

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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 電子工學會論文誌 SD編 第45卷 第9號
발행연도
2008.9
수록면
33 - 40 (8page)

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메모리의 속도가 빠르게 향상됨에 따라, 고속 메모리를 테스트하기 위한 테스트 장비가 요구되고 있다. 특히 고속 메모리를 사용자가 원하는 명령어를 그대로 사용하여 효율적으로 테스트할 수 있도록 패턴을 만들어 내는 알고리즘 패턴 생성기(ALPG)가 필요하다. 본 논문에서는 고속 메모리 테스트를 위한 새로운 병렬 ALPG를 제안한다. 제안하는 ALPG는 명령어 분석기를 통해 사용자가 실행하고자 하는 명령어를 그대로 사용하여 고속 메모리 테스트를 위한 패턴을 생성할 수 있다.
#ALPG #Algorithmic Pattern Generator #Memory test #Instruction Analyzer

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 기존 연구
Ⅲ. 본론
Ⅳ. 실험 결과
Ⅴ. 결론
참고문헌
저자소개

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