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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2008.1
- 수록면
- 14 - 19 (6page)
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현대 반도체의 소형화 및 고성능화로 인해 반도체 테스팅 분야는 다양한 문제점에 봉착하고 있다. 이중 연결선에 대한 signal integrity 문제는 SoC와 같은 고집적 회로에서 반드시 해결해야할 문제이다. 본 논문에서는 연결선의 signal integrity 테스트를 위한 효과적인 테스트 패턴 적용 방안을 제안한다. 제안하는 테스트 패턴은 경계 주사 구조를 통해 적용 가능하며, 상당히 짧은 테스트 시간으로 매우 효과적인 테스트를 수행할 수 있다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 기존 연구
Ⅲ. 본론
Ⅳ. 결과
Ⅴ. 결론
참고문헌
저자소개
참고문헌 (7)
참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - L.Green / 1999 / Understanding the Importance of Signal Integrity / IEEE Circuit and Devices Magazine : 7 ~ 10
2. [단행본] - IEEE Computer Society / 2001 / IEEE Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture / IEEE Standards 1149.1-2001,IEEE,New York
3. [단행본] - IEEE Computer Society / 2005 / IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits / IEEE Standard 1500-2005,IEEE,New York
4. [학술대회논문] - M. Cuviello / 1999 / Fault Modeling and Simulation for Crosstalk in System-on-Chip Interconnects / Proc. Int. Conf. on Computer Aided Design (ICCAD’ 99) : 297 ~ 303
5. [학술대회논문] - W.Chen / 1999 / Test Generation for Crosstalk-Induced Delay in Integrated Circuits / Proc. Int. Test Conf. (ITC’ 99) : 191 ~ 200
2. [단행본] - IEEE Computer Society / 2001 / IEEE Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture / IEEE Standards 1149.1-2001,IEEE,New York
3. [단행본] - IEEE Computer Society / 2005 / IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits / IEEE Standard 1500-2005,IEEE,New York
4. [학술대회논문] - M. Cuviello / 1999 / Fault Modeling and Simulation for Crosstalk in System-on-Chip Interconnects / Proc. Int. Conf. on Computer Aided Design (ICCAD’ 99) : 297 ~ 303
5. [학술대회논문] - W.Chen / 1999 / Test Generation for Crosstalk-Induced Delay in Integrated Circuits / Proc. Int. Test Conf. (ITC’ 99) : 191 ~ 200
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