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논문 기본 정보

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Korean Society for Precision Engineering International Journal of Precision Engineering and Manufacturing International Journal of Precision Engineering and Manufacturing Vol.7 No.1
발행연도
2006.1
수록면
9 - 12 (4page)

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A spectral analysis and numerical simulation are employed to assess the effects of the stylus tip radius on measuring surface profiles. Original profiles with fractal spectral densities are generated and then are numerically traced with circular tipped stylus. Instead of their spectral densities, the accumulative power spectrums of traced profiles are analyzed. It is shown that the minimum wavelength of traced profile relates directly to the radius r of the stylus tip and the root-mean-square (rms) roughness σ<SUB>o</SUB> of original profile. From this accumulation spectral analysis, a formula is developed to estimate the minimum wavelength of traced profile. By using the concept of the minimum wavelength, an appropriate stylus tip radius can be chosen for the given rms roughness σ<SUB>o</SUB> of the profile.
#Measurement #Surface roughness #Stylus profiler #Spectral analysis

목차

1. Introduction
2. Surface profile generation
3. A mathematical model of profile tracing
4. Accumulation spectral analysis and results
5. Conclusions
REFERENCES

참고문헌 (14)

참고문헌 신청
[학술지(정기간행물)] - / 1970. / Effect of Stylus Radius on the Roughness Values Measured with Tracing Stylus Instruments 16 : 325 ~ 335 google schola [학술지(정기간행물)] - / 1984. / Assessment of the Effect of Stylus Tip Radius and Flight on Surface Topography Measurements 106 : 202 ~ 209 google schola [학술지(정기간행물)] - / 1997. / Dependence of Measuring Errors of RMS Roughness on Stylus Tip Size for Mechanical Profilers 36 : 9005 ~ 9009 google schola [학술지(정기간행물)] - / 1991. / Effects of Non-Vanishing Tip Size in Mechanical Profile Measurements 1332 : 504 ~ 514 google schola [학술지(정기간행물)] - / 1999. / Spectral Analysis for the Effect of Stylus Tip Curvature on Measuring Rough Profiles 230 : 194 ~ 200 google schola

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