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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제43권 제10호
발행연도
2006.10
수록면
54 - 60 (7page)

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IEEE 1149.1 바운더리 스캔 칩들로 구성된 보드를 테스트하기 위한 패턴은 반드시 비트 스트림으로 구성되어야 한다. 그러나 이러한 비트 스트림을 생성하는 일은 IEEE 1149.1 표준에 대한 완벽한 지식이 필요하므로, 전문지식이 없는 SoC설계자에게는 상당히 어려운 일이다. 본 논문에서는 Test Ready PCI 와 Test Ready USB로 정의한 PCI와 USB 장치를 통해 편리하게 테스트를 수행할 수 있게 도와주는 테스트 인터페이스 컨트롤러를 제안한다. 이 제어기는 TI사와 Lucent사에서 명령어 단위의 수준에서 테스트 비트 스트림을 생성 하기위해 개발한 테스트 버스 컨트롤러를 기반으로 하여 테스트 전문 지식이 없는 설계자도 쉽게 테스트 패턴을 생성하여 테스트를 수행할 수 있는 장점이 있다.
#IEEE 1149.1 #test bus controller #TRUSB #TRPCI

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. IEEE 1149.1과 테스트 제어기
Ⅲ. Test-Ready PCI/USB 인터페이스 제어기
Ⅳ. 검증 방법 및 결과
Ⅴ. 결론
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