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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국트라이볼로지학회 KTS International Journal KSTLE International Journal Vol.7 No.1
발행연도
2006.6
수록면
5 - 9 (5page)

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The main principle of two widely used methods which were proposed by Ruan and Bhushan, and by Ogletree and Carpick are introduced. Experiments were conducted using the two methods to measure friction force between AFM probe and silicon sample quantitatively. To characterize the frictional properties, the conversion factors of the two methods by which lateral electronic signal is converted into actual friction force were calculated. The experimental results show that that the conversion factors were extraordinarily different from each other. Further research should be done to identify the reasons for these differences.
#nano #tribology #friction #lateral force microscope #calibration

목차

Abstract
1. Introduction
2. Experimental Details
3. Results and Discussion
4. Conclusions
Acknowledgments
References

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