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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2005.12
- 수록면
- 1 - 7 (7page)
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본 논문에서는 편광소자를 이용하는 스펙클패턴 전단간섭법(shearography)에서 각각 90도의 위상천이를 가지는 4개의 스펙클 패턴을 얻고, 이로부터 스펙클패턴의 각 지점에서의 위상을 얻을 수 있는 방법을 설명하고, 제안된 방법에 사용되는 파장판의 방위각에 의한 위상오차를 Jones 행렬을 이용하여 분석하였다.
목차
요약
Abstract
1. 서론
2. 편광소자를 이용한 위상천이기술
3. 파장판의 방위각에 의한 위상오차 해석
4. 결론
References
◇ 저자소개 ◇
참고문헌 (12)
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J.A. Leendertz and J.N. Butters, “An image-shearing speckle-pattern interferometer for measuring bending moments,” J. Phys. E. vol. 6, pp. 1107-1110, 1973.
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S.L. Tol, F.S. Chau, V.P.W. Shim, C.J. Tay, and H.M. Shang, “Application of shearography in nondestructive testing of composite plates,” J. Mater. Process. Technol. vol. 23, pp. 267-275, 1990.
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