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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2005.1
- 수록면
- 34 - 39 (6page)
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본 논문에서는 Wollaston 프리즘을 이용한 스펙클패턴 전단간섭법(shearography)에서 수동소자인 두 개의 파장 판과 편광판의 조합을 통해 각각 90도의 위상천이를 가지는 4개의 스펙클 패턴을 얻고, 이로부터 스펙클패턴의 각 지점에서의 위상을 얻을 수 있는 방법을 제시하였다. 제안된 방법에 사용되는 파장판에 의한 위상오차를 Jones 행렬을 이용하여 분석하였다.
목차
요약
Abstract
1. 서론
2. 파장판과 편광판을 이용한 위상천이기술
3. 파장판에 의한 위상오차 해석
4. 결론
References
◇ 저자소개 ◇
참고문헌 (12)
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J.A. Leendertz and J.N. Butters, “An image-shearing speckle-pattern interferometer for measuring bending moments,” J. Phys. E. vol. 6, pp. 1107-1110, 1973.
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W. Steinchen, “Quality control of fiber-reinforced composites by means the shearographic and holographic method,” Proc. SPIE vol. 1756, 1992.
S.L. Tol, F.S. Chau, V.P.W. Shim, C.J. Tay, and H.M. Shang, “Application of shearography in nondestructive testing of composite plates,” J. Mater. Process. Technol. vol. 23, pp. 267-275, 1990.
W. Steinchen, L.X. Yang, M. Schuth, G. Kupfer, “Application of shearography to quality assurace,” J. Mater. Process. Technol. vol. 52, no.1, pp. 141-150, 1992.
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