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한국조명·전기설비학회 조명·전기설비학회논문지 조명·전기설비학회논문지 제19권 제7호
발행연도
2005.11
수록면
53 - 59 (7page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2005

BGA 소자의 결함검출을 위한 2차원 비젼 검사알고리즘에 관한 연구
김기순 ,  김준식 ,  주효남 조명·전기설비학회논문지 2005.11 학술저널
카메라를 이용한 BGA 소자의 2차원 결함검출 알고리즘 개발
김기순 ,  김준식 ,  주효남 한국조명·전기설비학회 학술대회논문집 2005.05 학술대회자료

초록· 키워드

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본 논문에서는 비젼 시스템을 사용하여 마이크로 BGA 소자의 2차원 결함을 검사하는 알고리즘을 제안하였다. 제안한 방법은 정밀도를 높이기 위해 부화소 알고리즘을 사용하였으며, 입력된 영상에서 패키지 영역을 추출하고, 추출된 영역에서 볼 탐색창 방법을 사용하여 볼 영역을 추출한다. 이렇게 추출된 볼 영역에 대해 결함검사에 필요한 파라미터들을 추출하고, 이들을 사용하여 소자의 불량 유무를 판정한다. 모의실험을 통해 볼 검사 정밀도의 평균 오차가 17[㎛]가 됨을 확인하였다.
#BGA #inspection #vision system

목차

요약
Abstract
1. 서론
2. 본론
3. 결론
References
◇ 저자소개 ◇

참고문헌 (8)

참고문헌 신청
Linda G. Shapiro, George C. Stockman, Computer Vision, Prentice Hall, pp. 388∼407, 2001. google schola Dong-Hyeok Jang, “Embodiment of Digital Image Processing”, Imformation Gate, pp. 95∼102. 2001. google schola Edward. Lyvers, Owen Robert Mitchell. “Subpixel Measurements Using a Moment-Based Edge Operator”,Ieee Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence. Vol.11. No.12. December, 1989. google schola Gil-Dong Kim,“The Improved Subpixel Algorithm for Automated Visual Inspection System”, Department of Electronics Engineering, The Graduate School Korea University, p.1∼3, 1997. google schola Zoher Zain Karu,“Fast Subpixel Registration of 3-D Image”, Massachusetts Institute of Technology, September, pp, 120∼124, 1997. google schola

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