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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 1994년도 가을 학술발표논문집 제21권 제2호(A)
발행연도
1994.10
수록면
459 - 462 (4page)

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머신비전기술과 품질관리기술을 활용하여 외관검사공정을 자동화하는 검사공정 시스템이 국내에서는 아직 않되고 있다. 국내 기업들의 검사공정의 95%이상이 자동화가 않된 주 원인중의 하나는 기존의 자동정밑계측 시스템으로는 여러 검사항목을 실시간에 효율적으로 경제적으로 해야 하는 조건을 만족시키지 못하고 있기때문이다. 본 연구는 이를 해결하고자 Subpixel개념을 도입하여 머신비전시스템의 취약점인 정밀도를 개선시키고, 통계적 품질관리기법을 활용한 자동검사시스템을 제안하여 생산라인상에서의 전수검사를 가능하게 하고, 불량원인을 발생하는 즉시 통보하여 생산현장의 손실을 줄이고 생산성을 향상시키는 시스템을 제안한다. 이를 위하여 Subpixel개념을 이용한 계측, 자동검사시스템의 구성, 통계적품질관리의 활용, 실험결과에 대하여 서술한다.

목차

요약

1. 서론

2. 머신비전기술에 의한 정밀측정

3. 자동시각검사

4. 통계적 품질관리에 의한 불량원인 발견

5. 결론

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