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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국콘텐츠학회 한국콘텐츠학회논문지 한국콘텐츠학회논문지 제5권 제4호
발행연도
2005.8
수록면
188 - 196 (9page)

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본 논문에서는 테스트 시간과 전력소모를 감축할 수 있는 새로운 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔테스트 방법을 제안하였다. 제안된 방법은 수정된 스캔 셀 재배열과 하이브리드 적응적 부호화 방벙을 사용하여 scan-in전력과 테스트 데이터 량을 줄였으며 하이브리드 테스트 데이터 압축방법은 Golomb Code와 런길이(run-length) 코드를 테스트 데이터내의 런(run) 길이에 따라서 적응적으로 적용하는 방법이다. 또한 scan-in 전력소모를 최소화 하기 위해서 스캔 벡터내의 열 해밍거리를 이용하였다.
ISCAS89 벤치마크 회로에 적용하여 실험한 결과, 모든 경우에 있어서 테스트 데이터 및 전력소모를 효율적으로 감소시켰으며 압축률은 17%-26%, 평균 전력소모는 8%-22%, 최고전력소모는 13%-60% 정도의 향상률을 보였다.

목차

요약

Abstract

Ⅰ. 서론

Ⅱ. scan - in 전력소모의 정의 및 기존의 압축코딩 방법

Ⅲ. 하이브리드 적응적 부호화

Ⅳ. 스캔 테스트 데이터 압축을 고려한 저전력 테스트 알고리즘

Ⅴ. 실험 및 결과

Ⅵ. 결론

참고문헌

저자소개

참고문헌 (11)

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, 1999. , Logic BIST for Large Industrial Designs Real Issues and Case Studies : 358 ~ 367 google schola , 2000. , I, O Bandwidth Bottleneck for Test google schola , 199 , A Distributed BIST Control Scheme for Complex VLSI Devices : 4 ~ 9 google schola , 1998. , Built-in self testing of sequential circuits using precomputed test sets : 418 ~ 423 google schola , 1999. , Scan Vector Compression, Decompression Using Statistical Coding : 114 ~ 120 google schola

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-004-015336300