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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 1992년도 봄 학술발표논문집 제19권 제1호
발행연도
1992.4
수록면
565 - 568 (4page)

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현대의 반도체 기술의 급격한 발전으로 PE의 크기는 감소하고 집적도는 증가 하였으나 다양한 고장(즉 분산형 고장 (distributed fault), 군집형 고장 (clustered fault))으로 yield가 현저히 감소하게 되었다. 일반적으로 이런 오류를 허용하기 위해서 2단계 재 구성 기법이 제안되었으나 블록간의 상호연결을 PE만으로 제한 함으로써 군집형 고장을 가속화 시키는 문제점을 갖고 있다. 본 논문에서는 효율적인 재 구성 기법을 제안 함으로써 위의 문제점을 해결하였고 그 문제 해결에 필요한 상호연결 및 SE(Switching element)를 포함한 개선된 2차원 메쉬 배열 구조를 제안하였다.

목차

요약

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 재 구성 알고리즘

Ⅲ. 효율적인 재 구성 방법

Ⅳ. 성능 평가

Ⅴ. 결론

[참고문헌]

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