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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 2001년도 가을 학술발표논문집 제28권 제2호(Ⅲ)
발행연도
2001.10
수록면
7 - 9 (3page)

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ASIC 설계에서 gated clock 으로 동작하는 clock 을 입력으로 받는 회로들은 스캔 테스트를 수행하기에 용이하지 않다. 이러한 회로들에 대하여 스캔 테스트기법을 적용하기 위한 설계변경기술을 제안한다. 제안하는 설계변경기술은 비동기 회로를 동기 회로로 변환함으로써 스캔 기법을 적용할 수 있는 회로로 변환하게 된다. 이로써 테스트를 좀 더 용이하게 수행할 수 있을 뿐 아니라 결함 시험도를 높이게 되는 효과를 가져올 수 있다. constraine로 인 ... 전체 초록 보기

목차

Abstract

1. 서론

2. 기존의 기법

3. 새로운 설계변경기술

4. 연구결과

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